此版本中的重大突破是通过CATIA V5或PRO / E直接访问制造信息。可用的支持是用于读取数据注释,例如文本,基准几何公差和粗糙度以及孔功能。 PMI数据的提取允许用户在将其插入DMIS程序之前,给出应用于基准功能和ACIS孔功能的GD&T容差列表。 进一步的开发包括Metris激光扫描仪的集成以及改进的碰撞保护仿真,翼脚厚度测量支持,以及支持第三方测量技术,如Faro ARM SDK,Kryton K-CMM,以及Zeiss CMMS的已知和未知扫描浩瀚的头。