Martin Hawkins,Bowers的集团销售总监说:“我们很高兴能够向英国推出Trimos Tr-Scan 2D。 Trimos巧妙地采用了一种新的无接触表面测量与TR-Scan 2D的透视。其稳定的机制使非接触式测量降低到几纳米,简单的光学耦合系统允许在测量范围内快速变化。在各种传感器中添加,并且TR-Scan 2D是足够的,足以满足各种测量需求,并且对于多个运算符来说简单。“

由Trimos测量软件Nanoware驱动,系统允许任何类型的2D模式测量,而“垂直修补”(拼接)的集成使其能够舒适地超过传感器的测量范围。可以在软件中创建宏,以便完全自动测量,从生产线环境中集成到组件托盘。软件分析程序可以生产根据当前粗糙度标准使用的日志表,例如RA,RZ,RQ等。还可以使用轮廓选项将配置文件转换为轮廓分析。